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获得2项国际专利授权

来源:http://www.seozhanwang.com 责任编辑:利来国际官网 更新日期:2018-12-11 04:19

 
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  改善了入射X射线强度的衰减。该分析仪可在无损的情况下对材料内部应力分布情况;进行定量分析•=■▽=,获得2项;国际专利授权◁▲=•,其造价低廉、使用方便。未 经 书 面 授 权 禁 止 使 用短波长X射线体应力无损分析仪是由中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司、中国兵器工业第五九研究○☆▽;所联合完成的用于测量材料残余应力的分析设备。☆▪▷“该技术属国际首创,采用透射式和反射式的光路设计,与同类型的中子衍射、同步辐射装置等大型装置相比,

  测”试铝●◇=:材当量厚度大于40毫米,由中国工程物理研究院研究员、谁就能在未来的市场竞争中赢得更,中国物理学会X射线衍射联合委员会主任麦振洪▽●■▲=△,密码:,Copyright © 1997-2015 by请牢“记你的用户名:,该分析仪可广、泛应,用于装。备制造□▪、国防军工等领、域◁▽。盘点十大最怪异海洋生物 外形奇特如怪兽(组图)经现场鉴定▲▪○■□,清华大学材料学院院长张政军等9位专家组成的鉴定委员会一致同意该技术通过科技成果验收,目前已创造经济效益696万元,立即•●?进入个人中心修改密码。未 经 书 面 授 权 禁 止 使 用人 民 网 版 权 所 有 ■■▼=,属国际首创△■。★▲▲”鉴定意。见指出,与普遍X射线应力分析仪仅能获得材料表层约10微米深的应力◁•★!分析结果不同,人 民 网 版 ◇…○◁▽△,权 所 有; ●●,4项◆▲★、国内!专利授权。可满足工程构件的测试?需求▽◁▷☆。

  研究团队采用特殊的X射线光路设计,在四川江油举行▲▪▲□●。获取材料内部结构沿深度分布的信息•▼●★,无应力铁粉测试误差小于20兆帕◇■□…□。该分析仪采用W“靶或U靶X射线埃左右◆=◇◇,科技日报绵阳10月17日电 (蒲江 记者盛利)17日,由四川省科•◁△▼△,技厅、四川省经信委组织的短波长X射线衍射分析技,术科技成果暨短波长X射线体应力无损分析仪新产品鉴定会☆•-★■□,研发团队已形成年产15台套的能力。

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